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1篇

出版年度

2001

1篇

作者

	Kang, Sung-Ho	1篇
	Kim, Hong-Sik	1篇
	Yoon, Doe-Hyun	1篇

来源期刊

ETRI Journal

1篇

学科主题

	应用物理学	1篇
	电信	1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

韩国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Yoon, Doe-Hyun")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Dynamic Power Supply Current Testing for Open Defects in CMOS SRAMs

作　　者：Yoon, Doe-Hyun ;Kim, Hong-Sik ;Kang, Sung-Ho

出　　处：ETRI Journal. 2001 ;23(2):77-77.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114421879

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