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2篇

出版年度

	1999	1篇
	1997	1篇

作者

	Baek, Kyu-Ha	2篇
	Nam, Kee-Soo	2篇
	Park, Jong-Moon	2篇
	Yoon, Yong-Sun	2篇
	Kim, Chang-Il	1篇

Kwon, Kwang-Ho

1篇

来源期刊

ETRI Journal

2篇

学科主题

	应用物理学	2篇
	电信	2篇

语种

英文

2篇

国别/地区

韩国

2篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Yoon, Yong-Sun")))) )) ) )"

共 2 条记录

排序：全选导出：

1.Corrosion at the Grain Boundary and a Fluorine-Related Passivation Layer on Etched Al-Cu (1%) Alloy Surfaces

作　　者：Baek, Kyu-Ha ;Yoon, Yong-Sun ;Park, Jong-Moon 等

出　　处：ETRI Journal. 1999 ;21(3):16-16.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114421915

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2.An Amorphous Silicon Local Interconnection (ASLI) CMOS with Self-Aligned Source/Drain and Its Electrical Characteristics

作　　者：Yoon, Yong-Sun ;Baek, Kyu-Ha ;Park, Jong-Moon 等

出　　处：ETRI Journal. 1997 ;19(4):402-402.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114421957

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