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3篇

出版年度

2018

3篇

作者

	Gene Sheu	3篇
	Chiu-Chung Lai	2篇
	Ravi Deivasigamani	2篇
	Shao-Ming Yang	2篇
	Aanand	1篇

	Chieh Chih Wu	1篇
	Ching Yuan Wu	1篇
	Chiu Chung Lai	1篇
	Shao Ming Yangi	1篇
	Shao Wei Lu	1篇
	Syed Sarwar Imam	1篇
	Ting Yao Chien	1篇
	Tzu Chieh Lee	1篇

文章类型

Research Article

3篇

来源期刊

MATEC Web of Conferences

3篇

语种

英文

3篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Chiu-Chung Lai")))) )) ) )"

共 3 条记录

排序：全选导出：

1.Study of HCI Reliability for PLDMOS

作　　者：Ravi Deivasigamani ;Gene Sheu ;Aanand 等

出　　处：MATEC Web of Conferences. 2018 ;201.doi:10.1051/matecconf/201820102001

出版社：EDP Sciences

文章 ID：1020598080

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2.An Innovated 80V-100V High-Side Side-Isolated N-LDMOS Device

作　　者：Shao Ming Yangi ;Gene Sheu ;Ting Yao Chien 等

出　　处：MATEC Web of Conferences. 2018 ;201.doi:10.1051/matecconf/201820102003

出版社：EDP Sciences

文章 ID：1020598082

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3.Analysis of Anti-JFET for 600V VDMOS and HCI Reliability

作　　者：Shao-Ming Yang ;Gene Sheu ;Chiu-Chung Lai 等

出　　处：MATEC Web of Conferences. 2018 ;201.doi:10.1051/matecconf/201820105001

出版社：EDP Sciences

文章 ID：1020598096

文章详细

1

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