1.$ZrO_2$-$TiO_2$ 세라믹의 $MoO_2$ 함유량과 소결온도가 유전특성에 미치는 영향

作　　者：Lee, Sang-Seok ;Lee, Seok-Jin ;Lee, Chang-Hwa 等

出　　处：ETRI Journal. 1992 ;14(4):210-216.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422050

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2.BaO-($Sm_1$$-_X$$La_X$$)_2$$O_3$-$TiO_2$ 세라믹의 마이크로웨이브 유전특성

作　　者：Seong, Hui-Gyeong ;Kim, Tae-Hong ;Lee, Jae-Sin 等

出　　处：ETRI Journal. 1992 ;14(4):217-227.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422051

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3.$SiO_2$의 첨가가 BaO-$Nd_2$$O_3$-$CeO_2$-$TiO_2$계 세라믹 유전체의 유전특성에 미치는 영향

作　　者：Lee, Seok-Jin ;Lee, Chang-Hwa ;Lee, Sang-Seok 等

出　　处：ETRI Journal. 1992 ;14(4):228-235.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422052

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4.광 Intensity 검출 방식을 응용한 광커넥터 저손실화 연구

作　　者：Jeon, O-Gon ;An, Seung-Ho ;Jeong, Myeong-Yeong 等

出　　处：ETRI Journal. 1992 ;14(2):120-127.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422072

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5.세계품질대회(WQC'84) 소개

作　　者：Choe, Tae-Gu ;Lee, Dae-Gi

出　　处：ETRI Journal. 1984 ;6(4):67-70.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422386

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6.AXE의 품질활동 검토

作　　者：Sin, Seong-Mun ;Choe, Tae-Gu

出　　处：ETRI Journal. 1984 ;6(4):71-74.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422387

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7.교환기의 신뢰도에 관한 소고

作　　者：Choe, Tae-Gu ;Lee, Dae-Gi

出　　处：ETRI Journal. 1983 ;5(4):30-34.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422425

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8.Markov 과정을 이용한 디지탈 교환기의 신뢰도 모형

作　　者：Sin, Seong-Mun ;Choe, Tae-Gu ;Lee, Dae-Gi

出　　处：ETRI Journal. 1983 ;5(2):3-8.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422443

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	应用物理学	8篇
	电信	8篇

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	Choe, Tae-Gu	8篇
	Lee, Dae-Gi	3篇
	Lee, Chang-Hwa	2篇
	Lee, Sang-Seok	2篇
	Lee, Seok-Jin	2篇

	Sin, Seong-Mun	2篇
	An, Seung-Ho	1篇
	Jeon, O-Gon	1篇
	Jeong, Myeong-Yeong	1篇
	Kim, Tae-Hong	1篇
	Lee, Jae-Sin	1篇
	Seong, Hui-Gyeong	1篇

	1992	4篇
	1984	2篇
	1983	2篇