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1篇

出版年度

2005

1篇

作者

	Don Edenfeld	1篇
	Jason Katz	1篇

来源期刊

Intel Technology Journal

1篇

学科主题

计算技术、计算机技术

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

美国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Don Edenfeld")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Redefining the Test Equipment Supply Chain: The Open Architecture Revolution

作　　者：Jason Katz ;Don Edenfeld

出　　处：Intel Technology Journal. 2005 ;9(3).

出版社：Intel

文章 ID：41910161

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