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出版年度

2009

2篇

作者

	Gautam Das	2篇
	Haripada Bhaumik	2篇
	Santanu Chattopadhyay	2篇

来源期刊

International Journal of Computer Science and Network Security

2篇

学科主题

计算技术、计算机技术

2篇

语种

英文

2篇

国别/地区

韩国

2篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Haripada Bhaumik")))) )) ) )"

共 2 条记录

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1.System-on-Chip Test-time and Scan-power Minimization Integrating Core and Interconnect Testing

作　　者：Gautam Das ;Santanu Chattopadhyay ;Haripada Bhaumik

出　　处：International Journal of Computer Science and Network Security. 2009 ;9(3):201-209.

出版社：International Journal of Computer Science and Network Security

文章 ID：46960586

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2.System-on-Chip Test-time and Scan-power Minimization Integrating Core and Interconnect Testing

作　　者：Gautam Das ;Santanu Chattopadhyay ;Haripada Bhaumik

出　　处：International Journal of Computer Science and Network Security. 2009 ;9(3):201-209.

出版社：International Journal of Computer Science and Network Security

文章 ID：186861203

文章详细

1

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