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2篇

出版年度

	2016	1篇
	2011	1篇

作者

	Chintan K Modi	1篇
	Jayesh D Chauhan	1篇
	Jayesh D. Chauhan	1篇
	Kunal J Pithadiya	1篇
	Kunal J. Pithadiya	1篇

来源期刊

	International Journal of Computer Information Systems and Industrial Management Applications	1篇
	International Journal of Innovative Research in Science, Engineering and Technology	1篇

学科主题

	文化、科学、教育、体育	1篇
	社会学	1篇

语种

英文

2篇

国别/地区

	印度	1篇
	美国	1篇

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共 2 条记录

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1.Eminent Inspection of Chip Resistor using Combination of Optimal Edge Detection and Location M Estimation Method

作　　者：Jayesh D. Chauhan ;Kunal J. Pithadiya

出　　处：International Journal of Innovative Research in Science, Engineering and Technology. 2016 ;5(2):1952.doi:10.15680/IJIRSET.2015.0502141

出版社：S&S Publications

文章 ID：174719862

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2.Selecting the Most Favourable Edge Detection Technique for Liquid Level Inspection in Bottles

作　　者：Kunal J Pithadiya ;Chintan K Modi ;Jayesh D Chauhan

出　　处：International Journal of Computer Information Systems and Industrial Management Applications. 2011 ;3:34-44.

出版社：Machine Intelligence Research Labs (MIR Labs)

文章 ID：182295936

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