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3篇

出版年度

	1992	1篇
	1989	1篇
	1988	1篇

作者

	Jeong, Cheol-O	3篇
	Sin, Seong-Mun	2篇
	Go, Jae-Sang	1篇
	Jo, Jin-Ho	1篇
	Kim, Chang-Hui	1篇

	Kim, Jong-Min	1篇
	Lee, Dae-Gi	1篇
	Lee, Jong-Suk	1篇
	O, Haeng-Seok	1篇

来源期刊

ETRI Journal

3篇

学科主题

	应用物理学	3篇
	电信	3篇

语种

英文

3篇

国别/地区

韩国

3篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Jeong, Cheol-O")))) )) ) )"

共 3 条记录

排序：全选导出：

1.운용데이타에 의한 부품 고장률 분석 및 예측고장률과의 비교 분석

作　　者：Jeong, Cheol-O ;Kim, Jong-Min ;Kim, Chang-Hui 等

出　　处：ETRI Journal. 1992 ;14(4):97-105.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422063

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2.TDX IC 신뢰도 검증

作　　者：Sin, Seong-Mun ;Jeong, Cheol-O ;O, Haeng-Seok 等

出　　处：ETRI Journal. 1989 ;11(4):3-21.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422122

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3.TDX-1(A)* 시스팀신뢰도분석-예측치와 현장운용 데이터를 중심으로

作　　者：Sin, Seong-Mun ;Jeong, Cheol-O ;Lee, Dae-Gi

出　　处：ETRI Journal. 1988 ;10(3):165-169.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422184

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