首页期刊浏览 2024年11月29日星期五

登录注册

全文

有本地全文

1篇

出版年度

2017

1篇

作者

	Chaoqun Wu	1篇
	Joong S. Jang	1篇
	Reviewing Editor	1篇
	Sang C. Park	1篇

来源期刊

Cogent Engineering

1篇

学科主题

人种学

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

英国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Joong S. Jang")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.A reliability model for a wafer FAB

作　　者：Joong S. Jang ;Sang C. Park ;Chaoqun Wu 等

出　　处：Cogent Engineering. 2017 ;4(1):1340817.doi:10.1080/23311916.2017.1340817

出版社：Taylor and Francis Ltd

文章 ID：204674193

文章详细全文下载

1

电话：010-85195300

E-mail：cassoa@cass.org.cn

地址：中国北京建国门内大街5号中国社会科学院1#楼

扫一扫关注微信

联系我们|关于我们|网站声明

国家哲学社会科学文献中心版权所有