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作 者：Julio Bar贸n Velandia ;Jonathan Steven Capera Quintana ;Sebastian Camilo Vanegas Ayala
出 处：International Journal of Electrical and Computer Engineering. 2021 ;11(4):3502-3509.doi:10.11591/ijece.v11i4.pp3502-3509
出 版 社：Institute of Advanced Engineering and Science (IAES)
文 章 ID：1038385790
作 者：Julio Bar贸n Velandia ;Camilo Enrique Rocha Calder贸n ;Daniel David Leal Lara
出 处：International Journal of Electrical and Computer Engineering. 2021 ;11(4):3510-3518.doi:10.11591/ijece.v11i4.pp3510-3518
出 版 社：Institute of Advanced Engineering and Science (IAES)
文 章 ID：1038385798