首页期刊浏览 2024年12月01日星期日

登录注册

高级检索

专家检索

全文

有本地全文

1篇

出版年度

2015

1篇

作者

	Ketan S Patel	1篇
	Kunal J Pithadiya	1篇

来源期刊

International Journal of Innovative Research in Computer and Communication Engineering

1篇

学科主题

计算技术、计算机技术

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

印度

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Ketan S Patel")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Evaluating the Most Efficient Edge Detection Technique for Inspection of Chip Resistor

作　　者：Kunal J Pithadiya ;Ketan S Patel

出　　处：International Journal of Innovative Research in Computer and Communication Engineering. 2015 ;3(9).doi:10.15680/IJIRCCE.2015. 0309063

出版社：S&S Publications

文章 ID：153306345

文章详细全文下载

1

电话：010-85195300

E-mail：cassoa@cass.org.cn

地址：中国北京建国门内大街5号中国社会科学院1#楼

扫一扫关注微信

联系我们|关于我们|网站声明

国家哲学社会科学文献中心版权所有