1.TDX-1(A)* 시스팀신뢰도분석-예측치와 현장운용 데이터를 중심으로

作　　者：Sin, Seong-Mun ;Jeong, Cheol-O ;Lee, Dae-Gi

出　　处：ETRI Journal. 1988 ;10(3):165-169.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422184

文章详细全文下载
2.소프트웨어 비용추정 모형에 관한 소고

作　　者：Kim, In-Su ;Lee, Dae-Gi

出　　处：ETRI Journal. 1987 ;9(3):139-156.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422244

文章详细
3.세계품질대회(WQC'84) 소개

作　　者：Choe, Tae-Gu ;Lee, Dae-Gi

出　　处：ETRI Journal. 1984 ;6(4):67-70.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422386

文章详细全文下载
4.Ericsson사의 품질/신뢰도 연구활동

作　　者：Lee, Dae-Gi ;Go, Jae-Sang

出　　处：ETRI Journal. 1984 ;6(1):53-56.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422419

文章详细全文下载
5.교환기의 신뢰도에 관한 소고

作　　者：Choe, Tae-Gu ;Lee, Dae-Gi

出　　处：ETRI Journal. 1983 ;5(4):30-34.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422425

文章详细全文下载
6.Markov 과정을 이용한 디지탈 교환기의 신뢰도 모형

作　　者：Sin, Seong-Mun ;Choe, Tae-Gu ;Lee, Dae-Gi

出　　处：ETRI Journal. 1983 ;5(2):3-8.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422443

文章详细全文下载
7.Markov Process에 의한 시스템의 신뢰도 해석

作　　者：Im, Deok-Bin ;Lee, Dae-Gi

出　　处：ETRI Journal. 1983 ;5(1):10-16.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422453

文章详细全文下载

	有本地全文	6篇
	有全文链接	1篇

	应用物理学	7篇
	电信	7篇

全文

出版年度

作者

来源期刊

学科主题

语种

国别/地区

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Lee, Dae-Gi")))) )) ) )"

	Lee, Dae-Gi	7篇
	Choe, Tae-Gu	3篇
	Sin, Seong-Mun	2篇
	Go, Jae-Sang	1篇
	Im, Deok-Bin	1篇

	1988	1篇
	1987	1篇
	1984	2篇
	1983	3篇

	Jeong, Cheol-O	1篇
	Kim, In-Su	1篇