首页期刊浏览 2024年11月24日星期日

登录注册

全文

有本地全文

1篇

出版年度

1989

1篇

作者

	Jeong, Cheol-O	1篇
	Jo, Jin-Ho	1篇
	O, Haeng-Seok	1篇
	Sin, Seong-Mun	1篇

来源期刊

ETRI Journal

1篇

学科主题

	应用物理学	1篇
	电信	1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

韩国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("O, Haeng-Seok")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.TDX IC 신뢰도 검증

作　　者：Sin, Seong-Mun ;Jeong, Cheol-O ;O, Haeng-Seok 等

出　　处：ETRI Journal. 1989 ;11(4):3-21.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422122

文章详细全文下载

1

电话：010-85195300

E-mail：cassoa@cass.org.cn

地址：中国北京建国门内大街5号中国社会科学院1#楼

扫一扫关注微信

联系我们|关于我们|网站声明

国家哲学社会科学文献中心版权所有