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1篇

出版年度

2006

1篇

作者

	Baek, Yong-Soon	1篇
	Oh, Su-Hwan	1篇
	Park, Jeong-Woo	1篇
	Park, Sahng-Gi	1篇
	Sim, Eun-Deok	1篇

	Sim, Jae-Sik	1篇
	Song, Hyun-Woo	1篇

来源期刊

ETRI Journal

1篇

学科主题

	应用物理学	1篇
	电信	1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

韩国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Park, Sahng-Gi")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Temperature, Current, and Voltage Dependences of Junction Failure in PIN Photodiodes

作　　者：Park, Sahng-Gi ;Sim, Eun-Deok ;Park, Jeong-Woo 等

出　　处：ETRI Journal. 2006 ;28(5):555-560.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114421434

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