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1篇

出版年度

2011

1篇

作者

	Manoj Saxena	1篇
	Mridula Gupta	1篇
	R.S.Gupta	1篇
	Rakhi Narang	1篇

来源期刊

International Journal of VLSI Design & Communication Systems

1篇

学科主题

计算技术、计算机技术

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

印度

1篇

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共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Linearity and Analog Performance Analysis of Double Gate Tunnel FET: Effect of Temperature and Gate Stack

作　　者：Rakhi Narang ;Manoj Saxena ;R.S.Gupta 等

出　　处：International Journal of VLSI Design & Communication Systems. 2011 ;2(3).

出版社：Academy & Industry Research Collaboration Center (AIRCC)

文章 ID：86826337

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