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2篇

出版年度

	2011	1篇
	2010	1篇

作者

	SM. Thamarai	2篇
	Dr K.Kuppusamy	1篇
	Dr T.Meyyappan	1篇
	K.Kuppusamy	1篇
	T. Meyyappan	1篇

来源期刊

	International Journal of Computer Trends and Technology	1篇
	International Journal of VLSI Design & Communication Systems	1篇

学科主题

计算技术、计算机技术

2篇

语种

英文

2篇

国别/地区

印度

2篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("SM. Thamarai")))) )) ) )"

共 2 条记录

排序：全选导出：

1.Heuristic approach to optimize the number of test cases for simple circuits

作　　者：SM. Thamarai ;K.Kuppusamy ;T. Meyyappan

出　　处：International Journal of VLSI Design & Communication Systems. 2010 ;1(3).

出版社：Academy & Industry Research Collaboration Center (AIRCC)

文章 ID：86826295

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2.Fault Detection and Test Minimization Methods for Combinational Circuits - A Survey

作　　者：SM. Thamarai ;Dr K.Kuppusamy ;Dr T.Meyyappan

出　　处：International Journal of Computer Trends and Technology. 2011 ;2(2-2).

出版社：Seventh Sense Research Group

文章 ID：113423902

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