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1篇

出版年度

2021

1篇

作者

	Abhishek V	1篇
	Joel Paul Alvares	1篇
	Nazia Abdul Majeed	1篇
	Shithil K	1篇
	Srastith Shetty	1篇

来源期刊

International Journal of Advances in Engineering and Management

1篇

语种

英文

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Srastith Shetty")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.PCB Defect Detection Using Image Processing

作　　者：Abhishek V ;Shithil K ;Srastith Shetty 等

出　　处：International Journal of Advances in Engineering and Management. 2021 ;3(7):3029-3031.doi:10.35629/5252-030728392844

出版社：IJAEM JOURNAL

文章 ID：1037737316

文章详细

1

电话：010-85195300

E-mail：cassoa@cass.org.cn

地址：中国北京建国门内大街5号中国社会科学院1#楼

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