1.Localized Tail States and Electron Mobility in Amorphous ZnON Thin Film Transistors

作　　者：Sungsik Lee ;Arokia Nathan ;Yan Ye 等

出　　处：Scientific Reports. 2015 ;5.doi:10.1038/srep13467

出版社：Springer Nature

文章 ID：113410222

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2.Oxygen Defect-Induced Metastability in Oxide Semiconductors Probed by Gate Pulse Spectroscopy

作　　者：Sungsik Lee ;Arokia Nathan ;Sanghun Jeon 等

出　　处：Scientific Reports. 2015 ;5.doi:10.1038/srep14902

出版社：Springer Nature

文章 ID：113414823

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3.Wavelength-dependent Optical Instability Mechanisms and Decay Kinetics in Amorphous Oxide Thin-Film Devices

作　　者：Junyoung Bae ;Inkyung Jeong ;Sungsik Lee

出　　处：Scientific Reports. 2019 ;9(1):1-6.doi:10.1038/s41598-019-39744-8

出版社：Springer Nature

文章 ID：235845834

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4.Localized Tail States and Electron Mobility in Amorphous ZnON Thin Film Transistors

作　　者：Sungsik Lee ;Arokia Nathan ;Yan Ye 等

出　　处：Scientific Reports. 2015 ;5(1).doi:10.1038/srep13467

出版社：Springer Nature

文章 ID：235876552

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5.Oxygen Defect-Induced Metastability in Oxide Semiconductors Probed by Gate Pulse Spectroscopy

作　　者：Sungsik Lee ;Arokia Nathan ;Sanghun Jeon 等

出　　处：Scientific Reports. 2015 ;5(1).doi:10.1038/srep14902

出版社：Springer Nature

文章 ID：235877339

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6.Conduction Threshold in Accumulation-Mode InGaZnO Thin Film Transistors

作　　者：Sungsik Lee ;Arokia Nathan

出　　处：Scientific Reports. 2016 ;6(1).doi:10.1038/srep22567

出版社：Springer Nature

文章 ID：235855330

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	Sungsik Lee	6篇
	Arokia Nathan	5篇
	John Robertson	4篇
	Sanghun Jeon	2篇
	Yan Ye	2篇

	Yuzheng Guo	2篇
	Inkyung Jeong	1篇
	Junyoung Bae	1篇

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