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1篇

出版年度

2005

1篇

作者

	Kyoichiro Asayama	1篇
	Takahito Hashimoto	1篇
	Takeo Kamino	1篇
	Toshie Yaguchi	1篇
	Tsuyoshi Ohnishi	1篇

来源期刊

Hitachi Review

1篇

学科主题

电子工业

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

日本

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Toshie Yaguchi")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.3D Nano-analysis Technology for Preparing and Observing Highly Integrated and Scaled-down Devices in QTAT

作　　者：Toshie Yaguchi ;Takeo Kamino ;Tsuyoshi Ohnishi 等

出　　处：Hitachi Review. 2005 ;54(1).

出版社：Hitachi Ltd

文章 ID：40348897

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