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作者

	Vacius Jusas	39篇
	Jusas, Vacius	33篇
	Kęstutis Motiejūnas	29篇
	Motiejūnas, Kęstutis	28篇
	Eduardas Bareiša	27篇

	Rimantas Šeinauskas	27篇
	Bareiša, Eduardas	26篇
	Šeinauskas, Rimantas	26篇
	Jusas	17篇
	Vacius	17篇
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	Motiejūnas	15篇
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	Šeinauskas	13篇
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	Bareiša Eduardas	2篇
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	Damasevicius Robertas	2篇
	Liudas Motiejūnas	2篇
	Martisius Ignas	2篇
	Motiejūnas Kęstutis	2篇
	Motiejūnas, Liudas	2篇
	Packevičius, Šarūnas	2篇
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	Rita Butkiene	2篇
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	Tamoševičius, Žydrūnas	2篇
	Tomas Neverdauskas	2篇
	Šarūnas Grigaliūnas	2篇
	Šarūnas Packevičius	2篇
	Šeinauskas Rimantas	2篇
	Žydrūnas Tamoševičius	2篇
	Algimantas	1篇
	Bareisa, Eduardas	1篇
	Boriss Misnevs	1篇
	Diana Andone	1篇

文章类型

Research Article

83篇

来源期刊

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共 93 条记录

排序：全选导出：

1.Functional delay test generation approach using a software prototype of the circuit

作　　者：Bareiša Eduardas ;Jusas Vacius ;Motiejūnas Kęstutis 等

出　　处：Computer Science and Information Systems. 2013 ;:19-19.doi:10.2298/CSIS120416019B

出版社：ComSIS Consortium

文章 ID：84534901

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2.Functional delay test generation approach using a software prototype of the circuit

作　　者：Bareiša Eduardas ;Jusas Vacius ;Motiejūnas Kęstutis 等

出　　处：Computer Science and Information Systems. 2013 ;10(3):1165-1184.doi:10.2298/CSIS120416019B

出版社：ComSIS Consortium

文章 ID：86577391

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3.Fast DCT algorithms for EEG data compression in embedded systems

作　　者：Birvinskas Darius ;Jusas Vacius ;Martisius Ignas 等

出　　处：Computer Science and Information Systems. 2015 ;:83-83.doi:10.2298/CSIS140101083B

出版社：ComSIS Consortium

文章 ID：95918668

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4.Fast DCT algorithms for EEG data compression in embedded systems

作　　者：Birvinskas Darius ;Jusas Vacius ;Martisius Ignas 等

出　　处：Computer Science and Information Systems. 2015 ;12(1):49-62.doi:10.2298/CSIS140101083B

出版社：ComSIS Consortium

文章 ID：98866110

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5.Combining Software and Hardware Test Generation Methods to Verify VHDL Models

作　　者：Jusas ;Vacius ;Neverdauskas 等

出　　处：Information Technology And Control. 2013 ;42(4):362-368.doi:10.5755/j01.itc.42.4.4261

出版社：Kaunas University of Technology

文章 ID：100225162

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6.THE INFLUENCE OF CIRCUIT RE-SYNTHESIZING ON THE FAULT COVERAGE

作　　者：Bareiša, Eduardas ;Jusas, Vacius ;Motiejūnas, Kęstutis 等

出　　处：Information Technology And Control. 2004 ;31(2).doi:10.5755/j01.itc.31.2.11844

出版社：Kaunas University of Technology

文章 ID：101279622

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7.BLACK-BOX FAULT MODELS

作　　者：Bareiša, Eduardas ;Jusas, Vacius ;Motiejūnas, Kęstutis 等

出　　处：Information Technology And Control. 2006 ;35(3).doi:10.5755/j01.itc.35.3.11771

出版社：Kaunas University of Technology

文章 ID：101279643

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8.ON THE ENRICHMENT OF FUNCTIONAL DELAY FAULT TESTS

作　　者：Bareiša, Eduardas ;Jusas, Vacius ;Motiejūnas, Kęstutis 等

出　　处：Information Technology And Control. 2009 ;38(3).doi:10.5755/j01.itc.38.3.12124

出版社：Kaunas University of Technology

文章 ID：101279646

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9.REALIZATION-INDEPENDENT TESTING OF SEQUENTIAL CIRCUITS. EXPERIMENTAL RESULTS

作　　者：Bareiša, Eduardas ;Jusas, Vacius ;Motiejūnas, Kęstutis 等

出　　处：Information Technology And Control. 2004 ;32(3).doi:10.5755/j01.itc.32.3.11859

出版社：Kaunas University of Technology

文章 ID：101279675

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10.PROPERTIES OF VARIABLE N-DETECTION FUNCTIONAL DELAY FAULT TESTS

作　　者：Bareiša, Eduardas ;Jusas, Vacius ;Motiejūnas, Kęstutis 等

出　　处：Information Technology And Control. 2008 ;37(2).doi:10.5755/j01.itc.37.2.11935

出版社：Kaunas University of Technology

文章 ID：101279700

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