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1篇

出版年度

2005

1篇

作者

	Kim, Young-Min	1篇
	Lee, Jong-Hyun	1篇
	Yoon, Ho-Cheol	1篇

来源期刊

ETRI Journal

1篇

学科主题

	应用物理学	1篇
	电信	1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

韩国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Yoon, Ho-Cheol")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Silicon Micro-probe Card Using Porous Silicon Micromachining Technology

作　　者：Kim, Young-Min ;Yoon, Ho-Cheol ;Lee, Jong-Hyun

出　　处：ETRI Journal. 2005 ;27(4):433-433.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114421595

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