首页期刊浏览 2025年12月27日星期六

登录注册

高级检索

专家检索

全文

有本地全文

1篇

出版年度

2014

1篇

作者

	Ceric Hajdin	1篇
	Selberherr Siegfried	1篇
	Zisser Wolfhard H.	1篇
	de Orio Lacerda Roberto	1篇

来源期刊

Facta universitatis - series: Electronics and Energetics

1篇

学科主题

	工业经济	1篇
	真空电子学（电子物理学）	1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

塞尔维亚

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("de Orio Lacerda Roberto")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Microstructural impact on electromigration: A TCAD study

作　　者：Ceric Hajdin ;de Orio Lacerda Roberto ;Zisser Wolfhard H. 等

出　　处：Facta universitatis - series: Electronics and Energetics. 2014 ;27(1):1-11.doi:10.2298/FUEE1401001C

出版社：University of Niš

文章 ID：90458722

文章详细全文下载

1

电话：010-85195300

E-mail：cassoa@cass.org.cn

地址：中国北京建国门内大街5号中国社会科学院1#楼

扫一扫关注微信

联系我们|关于我们|网站声明

国家哲学社会科学文献中心版权所有