1.$BF_2^+$이온주입된 (100) 실리콘의 격자손상이 불순물 농도분포에 미치는 영향

作　　者：Baek, Mun-Cheol ;Lee, Sang-Hwan ;Gwak, Byeong-Hwa 等

出　　处：ETRI Journal. 1989 ;11(3):43-64.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422134

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2.반도체 재료의 구조분석을 위한 전자선 회절패턴 형성의 연구

作　　者：Baek, Mun-Cheol

出　　处：ETRI Journal. 1989 ;11(1):3-19.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422156

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3.반도체시료의 TEM 박편제작기술에 대한 연구

作　　者：Baek, Mun-Cheol ;Cha, Joo-Yeon ;Cho, Kyung-Ik 等

出　　处：ETRI Journal. 1988 ;10(3):212-220.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422188

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4.표면 분석기술의 반도체 응용 (II)-SEM 을 이용한 분석기술

作　　者：Baek, Mun-Cheol

出　　处：ETRI Journal. 1988 ;10(1):53-63.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422216

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5.TEM을 이용한 Ion Implanted Sample의 관찰 및 분석

作　　者：Baek, Mun-Cheol ;Gwon, O-Jun

出　　处：ETRI Journal. 1987 ;9(3):106-114.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422240

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6.표면분석 기술의 반도체 응용(I)

作　　者：Baek, Mun-Cheol ;Lee, Jung-Hwan ;Gwon, O-Jun

出　　处：ETRI Journal. 1986 ;8(4):161-174.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422296

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	Kwon, Oh-Joon	1篇
	Lee, Jin-Hyo	1篇
	Lee, Jung-Hwan	1篇
	Lee, Sang-Hwan	1篇

	应用物理学	6篇
	电信	6篇

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检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Baek, Mun-Cheol")))) )) ) )"

	Baek, Mun-Cheol	6篇
	Gwon, O-Jun	3篇
	Cha, Joo-Yeon	1篇
	Cho, Kyung-Ik	1篇
	Gwak, Byeong-Hwa	1篇

	1989	2篇
	1988	2篇
	1987	1篇
	1986	1篇