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3篇

出版年度

2018

3篇

作者

	Gene Sheu	3篇
	Ravi Deivasigamani	3篇
	Shao-Ming Yang	3篇
	Chiu-Chung Lai	2篇
	Aanand	1篇

	Chirag Aryadeep	1篇
	S. Krishna Sai	1篇
	S. Selvendran	1篇
	Shao Wei Lu	1篇
	Syed Sarwar Imam	1篇

文章类型

Research Article

3篇

来源期刊

MATEC Web of Conferences

3篇

语种

英文

3篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Ravi Deivasigamani")))) )) ) )"

共 3 条记录

排序：全选导出：

1.Study of HCI Reliability for PLDMOS

作　　者：Ravi Deivasigamani ;Gene Sheu ;Aanand 等

出　　处：MATEC Web of Conferences. 2018 ;201.doi:10.1051/matecconf/201820102001

出版社：EDP Sciences

文章 ID：1020598080

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2.120V Low Side LDMOS Device with Sided Isolation of 0.35μm CMOS Compatible Process

作　　者：Ravi Deivasigamani ;Gene Sheu ;Chirag Aryadeep 等

出　　处：MATEC Web of Conferences. 2018 ;201.doi:10.1051/matecconf/201820102005

出版社：EDP Sciences

文章 ID：1020598084

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3.Analysis of Anti-JFET for 600V VDMOS and HCI Reliability

作　　者：Shao-Ming Yang ;Gene Sheu ;Chiu-Chung Lai 等

出　　处：MATEC Web of Conferences. 2018 ;201.doi:10.1051/matecconf/201820105001

出版社：EDP Sciences

文章 ID：1020598096

文章详细

1

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