1.Sensitivity Study of Polysilicon Nanowire Based on Scattering and Quantum Mechanics Models

作　　者：Aanand ;Gene Sheu ;Syed Sarwar Imam 等

出　　处：MATEC Web of Conferences. 2018 ;201.doi:10.1051/matecconf/201820101002

出版社：EDP Sciences

文章 ID：1020598071

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2.Study of HCI Reliability for PLDMOS

作　　者：Ravi Deivasigamani ;Gene Sheu ;Aanand 等

出　　处：MATEC Web of Conferences. 2018 ;201.doi:10.1051/matecconf/201820102001

出版社：EDP Sciences

文章 ID：1020598080

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3.Design of a Low on Resistance High Voltage (120V) Novel 3D NLDMOS with Side Isolation Based on 0.35um BCD Process Technology

作　　者：Shao-Ming Yang ;Gene Sheu ;Tzu Chieh Lee 等

出　　处：MATEC Web of Conferences. 2018 ;201.doi:10.1051/matecconf/201820102004

出版社：EDP Sciences

文章 ID：1020598083

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4.120V Low Side LDMOS Device with Sided Isolation of 0.35μm CMOS Compatible Process

作　　者：Ravi Deivasigamani ;Gene Sheu ;Chirag Aryadeep 等

出　　处：MATEC Web of Conferences. 2018 ;201.doi:10.1051/matecconf/201820102005

出版社：EDP Sciences

文章 ID：1020598084

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5.Analysis of Anti-JFET for 600V VDMOS and HCI Reliability

作　　者：Shao-Ming Yang ;Gene Sheu ;Chiu-Chung Lai 等

出　　处：MATEC Web of Conferences. 2018 ;201.doi:10.1051/matecconf/201820105001

出版社：EDP Sciences

文章 ID：1020598096

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	Shao Wei Lu	2篇
	Syed Sarwar Imam	2篇
	Chieh Chih Wu	1篇
	Chirag Aryadeep	1篇
	Ming Jen Fan	1篇
	S. Krishna Sai	1篇
	S. Selvendran	1篇
	Ting Yao Chien	1篇
	Tzu Chieh Lee	1篇
	Yun Jung Lin	1篇

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	Gene Sheu	5篇
	Shao-Ming Yang	5篇
	Ravi Deivasigamani	3篇
	Aanand	2篇
	Chiu-Chung Lai	2篇