1.UPC 방식 분석

作　　者：Sin, Seong-Mun ;Lee, Jong-Hyeop ;Choe, Mun-Gi

出　　处：ETRI Journal. 1992 ;14(4):258-270.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422055

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2.광대역 입력 트래픽 모델 이론 : 포아송 프로세스

作　　者：Won, Hyeong-Gyu ;Sin, Seong-Mun ;Choe, Mun-Gi

出　　处：ETRI Journal. 1992 ;14(4):28-34.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422056

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3.TDX IC 신뢰도 검증

作　　者：Sin, Seong-Mun ;Jeong, Cheol-O ;O, Haeng-Seok 等

出　　处：ETRI Journal. 1989 ;11(4):3-21.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422122

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4.TDX-1(A)* 시스팀신뢰도분석-예측치와 현장운용 데이터를 중심으로

作　　者：Sin, Seong-Mun ;Jeong, Cheol-O ;Lee, Dae-Gi

出　　处：ETRI Journal. 1988 ;10(3):165-169.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422184

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5.MIL-HDBK-217의 부품고장률 예측방법 분석

作　　者：Sin, Seong-Mun ;Jeong, In-Myeong

出　　处：ETRI Journal. 1985 ;7(2):40-42.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422372

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6.AXE의 품질활동 검토

作　　者：Sin, Seong-Mun ;Choe, Tae-Gu

出　　处：ETRI Journal. 1984 ;6(4):71-74.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422387

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7.Markov 과정을 이용한 디지탈 교환기의 신뢰도 모형

作　　者：Sin, Seong-Mun ;Choe, Tae-Gu ;Lee, Dae-Gi

出　　处：ETRI Journal. 1983 ;5(2):3-8.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422443

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	Jeong, In-Myeong	1篇
	Jo, Jin-Ho	1篇
	Lee, Jong-Hyeop	1篇
	O, Haeng-Seok	1篇
	Won, Hyeong-Gyu	1篇

	应用物理学	7篇
	电信	7篇

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	Sin, Seong-Mun	7篇
	Choe, Mun-Gi	2篇
	Choe, Tae-Gu	2篇
	Jeong, Cheol-O	2篇
	Lee, Dae-Gi	2篇

	1992	2篇
	1989	1篇
	1988	1篇
	1985	1篇
	1984	1篇